《 GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合》標準

《GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合》是中國國家標準，屬于《GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》系列標準的第2部分。

該標準規定了電工電子產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動(dòng)（正弦）綜合環(huán)境下的試驗方法。試驗過(guò)程中，應根據產(chǎn)品的設計和使用要求，確定試驗條件和試驗步驟，包括試驗溫度、低氣壓、振動(dòng)頻率和振幅等參數。

一、范圍：
本部分規定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗的基本要求，嚴酷等級、試驗程序以及其他技術(shù)細則。
本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(dòng)(正弦)綜合作用下的貯存、運輸和使用的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。

二、試驗設備：
四綜合試驗箱

三、部分試驗條件：
1.試驗樣品應按照試驗程序依次進(jìn)行試驗室溫度下的振動(dòng)試驗，溫度試驗和溫度/低氣壓綜合試驗，最后再疊加以振動(dòng)(正弦)使試驗樣品經(jīng)受溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)的綜合試驗。當試驗樣品已通過(guò)單一的振動(dòng)(正弦)試驗、溫度試驗及溫度/低氣壓綜合試驗時(shí)，可直接進(jìn)行溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)的綜合試驗。

2.在試驗過(guò)程中試驗樣品是否處于工作狀態(tài)應由有關(guān)規范規定。

在試驗過(guò)程中，應注意試驗裝置的安裝和調試、試驗參數的控制和記錄、試驗過(guò)程中產(chǎn)生的異常情況的處理等問(wèn)題。試驗結束后，應對產(chǎn)品進(jìn)行評定，判斷其是否符合設計要求和使用要求。

該標準適用于電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗，可用于產(chǎn)品研發(fā)、設計驗證、生產(chǎn)檢驗等環(huán)節，也可用于產(chǎn)品質(zhì)量評定和認證等方面。